WGJSTD-B介质损耗及介电常数测试仪

本仪器的测试回路可用被测元件L、主调谐电容C、回路的损耗电阻R构成的串联电路来等效，当测试回路谐振时（高频信号源输入信号的频率为谐振频率w₀），主调电容上的电压是信号源输入电压的Q倍，或Q=w₀L/R=1/w₀CR，显然信号源频率w₀的稳定度和精度、主调电容C的精度和分辨率、测试回路的高频损耗R决定了仪器的品质。模拟式的信号源稳定性差，主调电容的分辨率和读数精度低，使用复杂，并且不可避免地存在主观的操作误差。

WGJSTD-B传承*代WGJSTD-A数码化、人性化设计理念，采用数字化主调电容、LCD大屏幕液晶显示全参数、DDS直接数字合成信号源三项创新技术，使WGJSTD-B的技术性能、使用功能大为提升,*改变了老款面板上印制的二组辅助表格计算LCQ的落后状况，WGJSTD-B读数清晰,无须换算，操作简便，特别适合电子元器件的质量分析、品质控制、科研生产,也可用于高等院校的材料科学、电子信息、电子通信、等专业作科研实验仪器。